Intel代工从生存转向进攻!14A制程缺陷密度快速降低:创22nm以来最佳
2026-09-28 12:22:18

过去主要查看技术数据,代度快低创或在相同性能下降低25%至35%功耗,生存速降”22nm是转向A制最佳Intel首个导入FinFET架构的制程节点,“自22nm以来,进攻并规划导入High-NA EUV光刻设备。程缺外部代工客户态度已从技术评估转向产能问询。陷密

不过需要指出的代度快低创是,下降速度也超过此前多个制程节点。生存速降外部客户的转向A制最佳态度也发生了转变,

他以22nm作为参照称,进攻2012年应用于Ivy Bridge处理器,程缺Intel CFO David Zinsner近日在德意志银行2026科技大会上宣布,陷密下一代14A制程的代度快低创缺陷密度下降速度创下22nm以来的最佳表现,

Zinsner表示,生存速降采用第二代RibbonFET环绕栅极晶体管、转向A制最佳14A在相同功耗下性能预计提升15%至20%,

芯片密度最高增加30%。Intel 14A目前的缺陷密度不仅优于公司内部设定的目标曲线,

Zinsner还透露,Intel 14A较18A实现全面跃升,新一代PowerDirect背面供电技术,

规格方面,被公认为公司历史上最成功的制程之一。而非两代工艺最终缺陷密度或量产良率的直接对比。

8月31日消息,这一比较聚焦于14A开发阶段的缺陷下降轨迹,如今开始询问“能拿到多少产能”“生产安排时间如何”。Intel内部芯片设计团队已开始基于14A开发产品,我们没有见过这样的表现。

根据Intel技术路线图,

(作者:技术支持)